




產品描述
JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm 芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm 圖案布局:T型 (3-10μm) I 型 (15-50μm) 線/空間尺寸:16種規格圖案, 3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型) 15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型) JIMA(日本檢測儀器制造商協會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
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